测试和产品工程服务


灿芯半导体拥有针测和成测相关的软硬件开发能力。尤其是通过测试工程师和DFT工程师的紧密合作,我们在项目开始阶段就考虑到测试的解决方案,并且能够迅速解决测试程序debugging过程中出现的各种问题,保证高覆盖率和经过充分调试的程序按时进入量产。我们已完成开发的测试平台包括V93K,J750, V50,3360等。



产品良率的改善和提高始终是产品工程师的工作目标,通过专业分析工具,对WAT数据、针测数据和成测数据进行综合分析,并结合必需的失效分析手段,提供改进建议,和工厂的产品工程师一起提升良率。